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二次イオン質量分析法 貸出可

-- 丸善出版 -- 2025.5 -- 428.4

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
閲覧室 /428.4/ﾆ/ 117485276 成人一般 可能 iLisvirtual

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タイトル 二次イオン質量分析法
タイトルカナ ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
叢書名 表面分析技術選書
出版者 丸善出版
出版年 2025.5
ページ数 9,226p
大きさ 21cm
一般件名 表面(工学) , イオンビーム , 質量分析
ISBN13桁 978-4-621-31135-6 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks
言語 jpn
分類記号 428.4
内容紹介 多くの研究分野で活用されている二次イオン質量分析法(SIMS)。その原理と基礎から、SIMSによる測定の実際、目的別の応用例までを解説する。SIMSの全貌を見通せるテキスト。

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