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半導体デバイスの不良・故障解析技術
貸出可
二川 清/編著 -- 日科技連出版社 -- 2019.12 -- 549.8
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1
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所蔵場所
請求記号
資料コード
資料区分
帯出区分
状態
閲覧室
/549.8/ニ/
117146225
成人一般
可能
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資料詳細
タイトル
半導体デバイスの不良・故障解析技術
タイトルカナ
ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
叢書名
信頼性技術叢書
著者
二川 清
/編著,
上田 修
/著,
山本 秀和
/著
著者カナ
ニカワ キヨシ,ウエダ オサム,ヤマモト ヒデカズ
出版者
日科技連出版社
出版年
2019.12
ページ数
8,218p
大きさ
21cm
一般件名
半導体
,
信頼性(工学)
ISBN13桁
978-4-8171-9685-9
言語
jpn
分類記号
549.8
内容紹介
半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。
著者紹介
1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。工学博士。芝浦工業大学非常勤講師。信頼性技術功労賞など受賞。著書に「はじめてのデバイス評価技術」など。
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