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半導体デバイスの不良・故障解析技術 貸出可

二川 清／編著 -- 日科技連出版社 -- 2019.12 -- 549.8

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
閲覧室 /549.8/ﾆ/ 117146225 成人一般 可能 iLisvirtual

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タイトル 半導体デバイスの不良・故障解析技術
タイトルカナ ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
叢書名 信頼性技術叢書
著者 二川 清 ／編著, 上田 修 ／著, 山本 秀和 ／著  
著者カナ ニカワ キヨシ,ウエダ オサム,ヤマモト ヒデカズ
出版者 日科技連出版社
出版年 2019.12
ページ数 8,218p
大きさ 21cm
一般件名 半導体 , 信頼性(工学)
ISBN13桁 978-4-8171-9685-9 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
言語 jpn
分類記号 549.8
内容紹介 半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。
著者紹介 1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。工学博士。芝浦工業大学非常勤講師。信頼性技術功労賞など受賞。著書に「はじめてのデバイス評価技術」など。

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