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蛍光X線分析の実際 貸出可

中井 泉／編集 -- 朝倉書店 -- 2016.7 -- 433.57

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
閲覧室 /433.5/ｹ/ 117009704 成人一般 可能 iLisvirtual

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タイトル 蛍光X線分析の実際
タイトルカナ ケイコウ エックスセン ブンセキ ノ ジッサイ
著者 中井 泉 ／編集, 日本分析化学会X線分析研究懇談会 ／監修  
著者カナ ナカイ イズミ,ニホン ブンセキ カガクカイ
出版者 朝倉書店
出版年 2016.7
ページ数 10,265p
大きさ 26cm
一般件名 エックス線分光分析
ISBN13桁 978-4-254-14103-0 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
言語 jpn
分類記号 433.57
内容紹介 試料調製、標準物質、蛍光X線装置スペクトル、定量分析などの基礎項目を平易に解説。さらに、食品中の有害元素分析、放射性大気粉塵の解析、美術品をはじめ文化財への非破壊分析など、豊富な応用事例も掲載する。
著者紹介 1953年東京都生まれ。筑波大学大学院化学研究科博士課程修了(理学博士)。東京理科大学理学部教授。

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