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LSI故障解析技術のすべて 貸出可

二川 清／著 -- 工業調査会 -- 2007.11 -- 549.7

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
閲覧室 /549.7/ﾆ/ 115987695 成人一般 可能 iLisvirtual

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タイトル LSI故障解析技術のすべて
タイトルカナ エルエスアイ コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ
副書名 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー
著者 二川 清 ／著  
著者カナ ニカワ キヨシ
出版者 工業調査会
出版年 2007.11
ページ数 221p
大きさ 21cm
一般件名 集積回路
ISBN13桁 978-4-7693-1269-7 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
言語 jpn
分類記号 549.7
内容紹介 LSIの故障解析技術そのものに焦点を絞り、現在どのような技術が利用され、研究開発されているかについて、微細化、マージナル不良、タイミング不良などに対応するものに重点を置いて解説する。

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