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二次イオン質量分析法 貸出可

-- 丸善 -- 1999.7 -- 428.4

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
地下書庫 /428.4/ﾆ/ 114468929 成人一般 可能 iLisvirtual

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タイトル 二次イオン質量分析法
タイトルカナ ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
叢書名 表面分析技術選書
出版者 丸善
出版年 1999.7
ページ数 7,195p
大きさ 21cm
一般件名 表面(工学) , イオンビーム , 質量分析
ISBN 4-621-04623-3 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類記号 428.4
内容紹介 現場の分析実務技術者、材料及び各種機能デバイスの開発に従事している技術者を対象とした、表面分析法として位置づけが明確になっているSIMS(二次イオン質量分析法)の実用書。

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