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デバイス・部品の故障解析 貸出可

二川 清／[ほか]著 -- 日科技連出版社 -- 1992.9 -- 549.8

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
地下書庫 /549.8/ﾃﾞ/ 112463211 成人一般 可能 iLisvirtual

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タイトル デバイス・部品の故障解析
タイトルカナ デバイス ブヒン ノ コショウ カイセキ
叢書名 信頼性110番シリーズ
著者 二川 清 ／[ほか]著  
著者カナ ニカワ キヨシ
出版者 日科技連出版社
出版年 1992.9
ページ数 127p
大きさ 21cm
一般件名 半導体 , 集積回路 , 信頼性(工学)
ISBN 4-8171-3027-X 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類記号 549.8
内容紹介 新しくデバイス・部品の信頼性業務に携わることになった人のために、実際の業務でよく遭遇する問題について、初心者が陥りやすい罠や気付きにくい解決の秘訣を取り上げQ&Aの形で解説する「困ったときに開くノウハウ集」。

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