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新・テスト理論 貸出可

竹谷 誠／著 -- 早稲田大学出版部 -- 1991.4 -- 371.7

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
地下書庫 /371.7/ﾀ/ 112175294 成人一般 可能 iLisvirtual

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タイトル 新・テスト理論
タイトルカナ シン テスト リロン
副書名 教育情報の構造分析法
著者 竹谷 誠 ／著  
著者カナ タケヤ マコト
出版者 早稲田大学出版部
出版年 1991.4
ページ数 313p
大きさ 22cm
一般件名 教育評価
ISBN 4-657-91416-2 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類記号 371.7
内容紹介 1.教育情報の構造分析とは 2.質的な教育データの測度 3.S-P表分析法の基本的特性と利用法 4.S-P表の数理論的分析と解釈 5.IRS分析法の基本的特性と活用法 6.IRSグラフの数理論的分析と解釈 他2章

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